日立紫外可见分光光度计U-4100简单介绍
日立U-4100型紫外可见分光光度计是最高端的产品，可实现足以令“著名日立光度计品牌”自豪的精度。该产品对于在实际固体样品检测方面需要高质量数据的用户，例如半导体开发、光学样品和新材料领域的用户而言，是最佳的选择。
日立紫外可见分光光度计U-4100详细介绍
日立U-4100型紫外可见分光光度计是最高端的产品，可实现足以令“著名日立光度计品牌”自豪的精度。该产品对于在实际固体样品检测方面需要高质量数据的用户，例如半导体开发、光学样品和新材料领域的用户而言，是最佳的选择。
该系统的阵容可满足各种波长和各种尺寸待测样品的检测需求，并可通过结合各种特殊的附件来满足不同的分析需要，例如用于检测透过率和反射率的组件，以及可以极低的噪音水平在紫外区检测的积分球。
日立紫外可见分光光度计U-4100仪器特点
U-4100型紫外可见分光光度计在检测固定样品方面性能十分出色，可精确地检测极化属性。此图显示的是一束YAG激光在入射角为45°时所检测的反射率，体现了以微加工机为镜面产生的S-偏光和P-偏光光线的反射特性。两种偏光的反射率在1064nm时均接近100％。
在光学元件的制造中，获得精确的偏光特性指标十分重要。
日立紫外可见分光光度计U-4100技术参数
项目
U-4100
波长范围
175 至 2,600nm
分光器
棱镜-光栅或光栅-光栅型双分光器
预单色器：采用衍射光栅或棱镜的Littrow分光器
主单色器：衍射光栅分光器（2光栅切换）
Czerny-Turner单色器
检测器
光电倍增管（UV-VIS）：冷却型PbS（NIR）
60mm积分球：内表面覆盖Spectralon或BaSO4
反射测量入射角：标准和参比侧均为10°
样品仓
样品仓在机身顶部，与台面同高，可容纳内超大型样品：仓内尺寸为
480（W）x 470（D）x 200（H）mm（标准）
680（W）x 470（D）x 300（H）mm（大型）
光束距离：200 mm
尺寸（分光光度计主机）
730（W）x 800（D）x 880（H）mm（用于大型样品的材料室）
930（W）x 800（D）x 980（H）mm（用于大型样品的材料室）
重量
120kg
电源消耗
100, 115, 220, 230, 240V 交流 50/60Hz 500VA
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