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  详细情况:偏光显微镜 偏光显微镜(配热台)XPN-40  

 


偏光显微镜(配热台)XPN-40的介绍
偏光显微镜(配热台)XPN-40是地质、矿产、冶金等部门和相关高等院校最常用的专业实验仪器。高精度偏光显微镜可供广大用户作单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察以及显微摄影。高精度偏光显微镜配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件还可用于化工化纤、半导体工业以及药品检验等领域。偏光熔点测定仪采用微电脑检测,有自动 P、I、D调节,及模糊手动调节功能,偏光熔点测定仪通过 LED显示温度值及设定温度值。


本仪器是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的计算机图像处理技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在计算机显示器上很方便地观察偏光图像,从而对偏光图谱进行分析等对图片进行输出、打印。


偏光熔点测定仪
1、偏光熔点测定仪
在 20X 物镜下工作温度可达到最高300 ℃ 、温度运行程序全自动控制;温度程序段由用户自行设定,30段温 度编程,循环操作,能准确反映设定温度、炉芯温度、样品的实际温度。每段设定起始温度,及在该段内可维持时间 ,升温速率可调、精度±0.3 ℃、记忆点读数。


2、显微加热平台
可以随载物台移动、工作区加热面积大、透光区域可调、工作区温度梯度低于± 0.1;起始温度室温工作区加 热使用面积至少1X1cm、工作区温度梯度不超过 ± 0.1oC、透光区域 2mm以上,可调显示温度与实际温度误差不超过 ± 0.2;热台可以随载物台移动熔点测定;温度超过100度时,25X的物镜工作距离太近,容易损坏镜头,请选用长工作距离的 20X、40X 物镜。


偏光显微镜(配热台)XPN-40技术参数
1、目镜


类别
 


放大倍数
 


视场(mm)


平场目镜
 


10X
 


φ22


十字目镜
 


10X
 


φ20


2、物镜


类别
 


放大倍数
 


数值孔径(NA)
 


工作距离(mm)
 


盖玻片厚度(mm)


无应力平场消色差物镜
 


4X
 


0.1
 


7.18
 


-


10X
 


0.25
 


4.7
 


0.17


40X(S)
 


0.6
 


0.72
 


0.17


60X(S)
 


0.75
 


0.18
 


0.17


3、放大倍数:40X 100X 400X 600X
4、聚光镜数值孔径:NA1.2/0.22 摇出式消色差聚光镜,中心可调
5、起偏镜:振动方向360°可调,带锁紧装置,可移动光路
6、检偏镜:可移出光路,旋转范围90°,内置勃氏镜,中心可调
7、补偿器:λ片(Ф18mm,一级红,光程差551nm)
λ/4片(Ф18mm, 光程差147.3nm)
λ/4片(Ф18mm, 光程差147.3nm)
8、调焦系统:带限位和调节松紧装置的同轴粗微动,微动格值 0.002mm
9、电光源:6V/20W 卤素灯(亮度可调)
10、防霉:特有的防霉系统


电脑成像热台系统
1、三目偏光显微镜
2、熔点仪
3、CCD适配镜
4、300万USB型数字摄像器
5、图像处理软件


数码成像热台系统
1、三目偏光显微镜
2、熔点仪
3、数码相机专用适配镜
4、数码相机(NIKON)


偏光显微镜(配热台)XPN-40选购件
1、高像素成像系统 
2、偏光显微镜分析软件


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